SJ 20642.2-1998 半导体光电模块GD82型PIN-FET光接收模块详细规范
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A6DC8CBC56FF47EC84B06E0D008283A0 |
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日期: |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL5980 SJ 20642/2-1998,半导体光电模块GD82型,PIN 丒FET光接收模块详细规范,Senriamductor opto - dectraiic module,Detafl specification for type,GD82 HN - FET opto - receiver module,1998.03发布1998-05-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电模块GD82型,PIN - FET光接收模块详细规范,Semiconductor opto - electronic module Detail specification,for type GD82 PIN - FET opto - receiver module,SJ 20642/2-1998,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了 GD82型PIN - FET光接收模块的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于GD82型PIN-FET光接收模块(以下简称模块)的研制,生产和采购,按SJ 20642《半导体光电模块总规范》1.1条的规定,提供的质量保证等级为Ml和M2二,级,1.3 绝对最大额定直,绝对最大额定值如下:,项 目符号,数值,单位,最小最大,贮存温度ア叱-40 85,耗散功率pfot * 0.2 W,正电源电压- 5.5 V,负电源电压Vdd2 - -5.7 V,1.4推荐工作条件,推荐工作条件如下:,项 目符号,规范,值,单位,最小最大,工作环境温度Ta -25 70 七,正电源电压4.75 5.25 V,负电源电压Vdd2 -4.95 -5.45 V,工作波长A 1.29 1.33,中华人民共和国电子工业部1998 - 03-11发布 1998 - 05 - 01实施,—I 一,SJ 20租2/2 — 1998,2引用文件,GJB 128 — 86,GJB 150 — 86,GJB 179 — 86,GJB 548 — 88,GJB 915 — 90,SJ 20642 — 97,半导体分立器件试验方法,军用设备环境试验方法,计数抽样程序及表,微电子器件试验方法和程序,纤维光学试验方法,半导体光电模块规范,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按SJ 20642和本规范的规定,3.2 设计、外形结构和尺寸,3.2.1 设计,本模块的设计应满足本规范对性能指标和技术图纸的规定,3.2.2 外形结构和尺寸,模块的外形结构和尺寸应符合图1的规定,图1外形尺寸,D 01 〇2 E A L e らZ 初00,数值,(nun),最小500 4,公称2.54 7.6,最大20.8 16 12.8 5.7 3.0 0.55 10.5 5.0,3.2.3质量(重量),SJ 20642/2 — 1携,模块的质量最大30g,3.2.4 引出端排列,引出端排列应符合图2的规定,图中引出端1, 4接畑)2; 10接Frol; 7输出;3, 5, 8接地其它是空脚”,图2引出端排列图,3.2.5 电路图,电路图应符合图3的规定,模块的外表面应平整光洁、无毛刺、凹痕、划伤等影响寿命、使用或外观的缺陷,3.4 材料和元器件,模块所使用的材料和元器件是按军用标准或有关规定检验合格的产品,3.5 制造要求,模块的制造按有关工艺文件的规定执行,3.6 标志要求,模块应有下列标志:型号,承制方标志,3.7 光电性能及测试要求,光电性能及测试要求应符合表1的规定,3,SJ 20642/2 —1998,表1光电性能,参数名称符号测试方法,条件,除非另有规定?\ = 25七,规范值,单位,最小最大,频率响应,带宽,Bw 本规范附录A,Vrol = 5V Vdd2= -5.2V,@山=IrW A = 1.31pm,90 - MHz,响应度Re 本规范附录H,W = 5V,Vdd2= -5.2V,% = IpW,1MHz,Z)=l/2 A = 1.31pm,7\ = 25 七l.Oxlff, —,v/w,TA = 70, 7.Ox 103 -,噪声电压,有效值,Vn (r) 本规范附录C,Vdd1 = 5V,%2= -5.2V,- 400 ゼ,动态范围Dr 本规范附录c,VDDl = 5V VW)2= -5.2VX=1.31Mm,7rcp =139Mb/s NRZ 码,PN 码 2* - 1 的? =10-9,16 - dB,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应符合SJ 20642和本规范的规定,4.2 筛选,在提交鉴定检验和质量一致性检验前,产品应按SJ 20642和本规范表2,表3进行筛选,检验。不符合要求的产品应剔除。剔除的产品不能作为合格产品交货,表2筛选要求,序号试验,试验方法,GJB548,条件,_____ 5,M2,求,Ml,1 密封前老化1030 不适用不适用,2 非破坏性键合拉カ2023 100% 不适用,3 内部目检2017 100% 100%,4 稳定性烘烤1008 85t.2h 100% 100%,5 温度循环1010 -40.85セ,10次循环100% 100%,6,机械冲击或,恒定加速度,2002,2001 A 100% 100%,7,粒子碰撞噪声检测,(PIND) 2020 B 100% 不适用,8 光电测试本规范附录B Re符合表1 100% 100%,9 老炼1005,Ta二70七,96h,た1 =5V,yQ -5.2V 100% 100%,10 最终光电测试本规范附录B 表4Al分组及△参数100% ……
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